Existe una creciente preocupación por la contaminación por Material Particulado, sobre todo el PM2.5 y sus efectos sobre la salud. Para tomar medidas de prevención eficaces, es extremadamente importante la identificación de las fuentes. Por lo tanto, es tan necesario conocer la concentración de Material Particulado como el contenido elemental de éste. El Horiba PX-375 permite el análisis en continuo de Material Particulado cuantitativo y cualitativo para la identificación rápida de la fuente generadora de la emisión del Material Particulado.
Características
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Análisis continuo de concentración de Material Particulado y concentración elemental con una sola unidad de medida para operar directamente en campo.
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Desarrollado con tecnologías mundial mente utilizadas y probadas: Fluorescencia de rayos X y de Atenuación de Rayos Beta.
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La cinta de filtro de Horiba proporciona una excelente sensibilidad y rendimiento
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Dispone de una cámara CMOS que permite la observación de la muestra de partículas recogida en el filtro.
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Fácil funcionamiento y visualización de la información recopilada.
Límite Inferior de Detección (Ejemplo) (2σ) (ng/m3)
Elementos Detectables
Especificaciones
Partículas Medidas |
TSP, PM10 o PM2.5 |
Contenido de medida |
Concentración de partículas y concentración elemental |
Común
Rango de Flujo |
16.7 L/min |
Cinta filtrante |
Filtro de PTFE no tejido |
Temperatura de operación |
10 – 30°C |
Humedad Relativa |
0 a 80% sin condensación |
Suministro eléctrico |
AC100V~240V ±10%, 50/60Hz±1% |
Consumo eléctrico |
Aproximadamente 400VA |
Dimensiones externas |
430mm(W)×550mm(D)×285mm(H) (sin el cabezal de toma de muestra) |
Peso |
40kg (sin el cabezal de toma de muestra) |
Salida de datos |
Fichero CSV (Promedio de concentración de PM masa y concentración elemental) |
Conexión externa |
Ethernet, USB, RS-232C (opcional) |
Unidad de Medida de Concentración de Partículas
Método de medida |
Atenuación de Rayos Beta |
PM10 |
Toma de muestras US-EPA |
PM2.5 |
Ciclón BGI VSCCTM |
TSP |
Toma de muestras TSP |
Rango de medidas |
0~200/500/1000μg/m3 |
Repetibilidad |
±2% |
Deriva de Span |
±3% (24horas) |
Límite inferior de detección (2σ) |
±2μg/m3 (24horas) |
Ciclo de muestreo y de medida |
0.5/1/2/3/4/6/8/12/24 horas |
Unidad de Análisis Elemental
Método de Medida |
Espectroscopía de dispersión de Rayos X |
Filtro primario de Rayos X |
Cambio automático para metales ligeros/pesados |
Voltaje del Tubo |
Cambio automático para 15kV/50kV |
Detector |
SDD (Silicon Drift Detector) |
Imagen de la muestra |
Cámara CMOS |
Tiempo de análisis |
1000s (16.6 min) como estándar
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Material de calibración |
NIST SRM 2783 |
Funciones de seguridad para la radiación de Rayos X |
Sistema interno de cierre y luz de indicación de Rayos X |
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Capacitación completa en instalaciones del cliente.
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Apoyo y acompañamiento en el proceso de acreditación de la técnica según Norma ISO 17025.
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Soporte postventa.
